半導体製造装置メーカー・株式会社ディスコ(本社:東京都大田区、社長:関家一馬)は、レーザ加工によるインゴットスライス手法・KABRA(カブラ)プロセス用Φ8インチ対応レーザソー「DAL7440」を開発しました。
※1 取得済特許・出願中関連特許合計58件(2018年1月9日時点)/商標登録済(登録第5850324号)
※2 レーザを連続的に照射することで、分離層(KABRA層)を任意の深さに形成し、このKABRA層を起点に剥離・ウェーハ化するインゴットスライス加工。 KABRA=Key
Amorphous-Black Repetitive Absorptionの略。プロセス詳細はKABRAプロセス特設サイトをご覧ください。
近年、シリコンに代わるパワーデバイスの材料として、SiCが注目されています。当社はレーザ加工によるSiCインゴットスライス手法・KABRAプロセスを開発し、SEMICON Japan 2016にてΦ6インチ対応のKABRAプロセス用レーザソー「DAL7420」を公開いたしましたが、既にΦ8インチのサンプルウェーハが出荷されるなど、大径化に向けた開発が進んでおります。このような背景やウェーハメーカーからの強い要望を受け、Φ8インチインゴットのKABRAプロセスに対応したレーザソー「DAL7440」を開発しました。なお、DAL7440はアメリカ地域でのテスト加工に柔軟に対応すべく、当社アメリカ・ノースカロライナオフィスへ2018年3月に設置予定です。
2018年3月(予定) | アメリカ拠点・DISCO HI-TEC AMERICA, INC.ノースカロライナオフィスへのテストカット機移設 |
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株式会社ディスコ 広報室